ปัจจุบันกล้องจุลทรรศน์นับว่ามีบทบาทสำคัญกับการดำรงชีวิตของมนุษย์
ทั้งทางตรงและทางอ้อมมากขึ้น สามารถช่วยให้ผู้ศึกษาวิจัยได้มองเห็นรายละเอียดของสิ่งต่าง
ๆ เพื่อนำมาใช้ให้เกิดประโยชน์และมองเห็นโทษที่เกิดขึ้น นับเป็นความก้าวหน้าของการประดิษฐ์กล้องจุลทรรศน์
โดยเฉพาะเลนส์และระบบการส่องสว่าง ประกอบกับอาศัยหลักการมองเห็นของนัยน์ตาซึ่งมีกำลังแยกแยะได้ดีที่สุด
กล้องจุลทรรศน์แบ่งตามลักษณะการใช้งานได้แก่ กล้องจุลทรรศน์แบบง่ายหรือเลนส์เดี่ยว
(Simple Microscope), กล้องจุลทรรศน์เลนส์ประกอบ (Compound Microscope)
สามารถให้กำลังขยายสูงมากเนื่องจากในกล้องเดียวประกอบด้วยเลนส์หลายชนิดและแต่ละชนิดยังมีขนาดและคุณภาพแตกต่างกัน
และกล้องจุลทรรศน์แบบพิเศษ (Special Microscope) ลักษณะและหลักการทั่วไปเหมือนกับกล้องจุลทรรศน์เลนส์ประกอบแบบธรรมดาเพียงแต่มีระบบเลนส์
และระบบการส่องสว่าง และการป้องกันอันตรายแตกต่างกันออกไป ซึ่งอาจจะใช้รังสีที่นัยน์ตามองไม่เห็นเข้ามาใช้ก็ได้
เช่น กล้องจุลทรรศน์สเตอริโอ (Stereoscopic Microscope) , กล้องจุลทรรศน์อินเวอร์ตเต็ต
(Inverted Microscope), กล้องฟลูออเรสเซนต์ (Fluorescence Microscope),
กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงเลเซอร์ (Confocal Laser Scanning Microscope)
ตลอดจนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Electron Microscope) เนื่องจากกล้องจุลทรรศน์เลนส์ประกอบทั้งแบบใช้แสงธรรมดาและใช้แสงแบบอื่นๆ
มีข้อจำกัดในการขยายภาพ เพราะกำลังขยายและกำลังการแยกแยะนอกจากขึ้นอยู่กับลักษณะของเลนส์แล้ว
ยังขึ้นอยู่กับความยาวคลื่นของแสงที่ใช้อีกด้วย กล้องจุลทรรศน์เลนส์ประกอบที่มีคุณภาพดีที่สุดมีกำลังแยกแยะขณะใช้ส่องดูวัตถุขนาดเล็กสุดเพียง
0.2 ไมโครเมตร เท่านั้น ส่วนกำลังขยายรวมไม่เกิน 2,000 เท่า ขณะที่ใช้กำลังขยายสูงสุด
มองเห็นวัตถุภายในเซลล์ที่มีขนาดเล็กเป็นจุด ไม่สามารถแยกแยะรายละเอียดได้ว่าส่วนนั้นเป็นอะไร
นักฟิสิกส์หลายคนได้แสดงให้เห็นว่าอิเล็กตรอนมีช่วงคลื่นสั้นกว่าแสงมาก
จึงนำอิเล็กตรอนมาใช้ในกล้องจุลทรรศน์แทนคลื่นแสง และใช้เลนส์แม่เหล็กแทนเลนส์กระจก
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมี 2 ชนิด คือ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
(Transmission Electron Microscope: TEM) เป็นกล้องที่ใช้ศึกษาโครงสร้างหรือองค์ประกอบของเซลล์และเนื้อเยื่อภายใน
มีการเตรียมตัวอย่างด้วยเทคนิคเฉพาะ สำหรับใช้ดูตัวอย่างในลักษณะภาคตัดขวางบางพิเศษ
และอีกชนิดหนึ่งคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning
Electron Microscope: SEM) เป็นกล้องที่ใช้ศึกษาโครงสร้างหรือองค์ประกอบพื้นผิวของวัตถุ
โดยลำอิเล็กตรอนขนาดเล็กมากจะถูกโฟกัสและกวาดไปตามผิวของตัวอย่าง อุปกรณ์ภายในจับเอาอิเล็กตรอนที่กระเจิงออกมาจากผิวตัวอย่าง
นำไปควบคุมความเข้มของอิเล็กตรอนแล้วส่งไปยังหลอดทีวี เพื่อให้อิเล็กตรอนปรากฏเป็นภาพขึ้นในจอรับภาพ
ข้าวคือพลังแห่งชีวิต
ทุกเมล็ดธรรมชาติสร้างมาอย่างประณีต |