ฝึกอบรมเชิงปฏิบัติการ เรื่อง Workshop on Transmission Electron Microscopy (TEM), Scanning Electron Microscopy (SEM) and X-ray Fluorescence Spectroscopy

โครงการฝึกอบรมเชิงปฏิบัติการ
เรื่อง Workshop on Transmission Electron Microscopy (TEM), Scanning Electron Microscopy(SEM)
and X-ray Fluorescence Spectroscopy (บรรยายภาษาไทย)
(นอกจากนี้มีการนำชมและฝึกปฏิบัติการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชุดใหม่ที่ทันสมัยที่สุดในประเทศไทยซึ่งได้การติดตั้งที่ฝ่ายเครื่องมือฯ)
ระหว่างวันที่ 8-12 กรกฎาคม 2556

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Electron Microscope) และเครื่องวิเคราะห์ธาตุ (X-ray Fluorescence
Spectroscopy) เป็นเครื่องมือวิทยาศาสตร์ขั้นสูง ที่มีความสำคัญต่องานวิจัยด้านนาโนเทคโนโลยีและวิทยาศาสตร์สาขาอื่นมากมาย เช่น ฟิสิกส์ เคมี ชีววิทยา วิศวกรรมศาสตร์ การแพทย์ และสาธารณสุข เป็นต้น กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด สามารถให้รายละเอียดของตัวอย่างที่มีความละเอียดสูง ส่วนเครื่องวิเคราะห์ธาตุสามารถระบุชนิดธาตุของตัวอย่างขนาดเล็ก และมีปริมาณน้อยได้ ดังนั้นจึงทำให้มีบทบาทต่อการสร้างผลงานวิจัยที่มีคุณภาพ และมีประโยชน์ต่อการพัฒนางานทางด้านอุตสาหกรรมต่าง ๆ มากมาย เช่น อุตสาหกรรมการผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ อุตสาหกรรมอาหารและการเกษตร อุตสาหกรรมการผลิตวัสดุอุปกรณ์ยานยนต์ อุตสาหกรรมเคมีและสิ่งแวดล้อม เป็นต้น

การฝึกอบรมครั้งนี้ได้รับเกียรติจาก Prof. Dr. Supapan Seraphin จาก Department of Materials Science and Engineering, University of Arizona ประเทศสหรัฐอเมริกา มาเป็นวิทยากรผู้เชี่ยวชาญพิเศษ โดยได้รับการสนับสนุนค่าใช้จ่ายบางส่วนจาก Office of Science and Technology (OSTC), Royal Thai Embassy, Washington D.C. and Ministry of Science and Technology, Thailand

คุณสมบัติผู้เข้ารับการฝึกอบรม/ผู้รับบริการ :
อาจารย์ นักวิจัย นิสิตทั้งภายในและภายนอกมหาวิทยาลัย และบุคคลทั่วไป จำนวน 20 คน

ระยะเวลาและสถานที่จัดอบรม :
ระหว่างวันที่ 8-12 กรกฎาคม 2556
อาคารปฏิบัติการวิจัยกลาง ชั้น ๑ งานกล้องจุลทรรศน์ ฝ่ายเครื่องมือและวิจัยทางวิทยาศาสตร์

ค่าลงทะเบียน :

กรุณาชำระเงินค่าลงทะเบียน ภายในวันที่ 29 กรกฎาคม 2556
สามารถเบิกค่าใช้จ่ายจากต้นสังกัดได้ตามระเบียบของทางราชการ

Download

• รายละเอียดโครงการ
• ใบสมัคร